測量原理：

　　光學熱膨脹儀采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的尺寸的大小。 高強度的GaN LED發出平面光，通過一個擴散單元和準直透鏡，產生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠心光學系統進行精細處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數字邊緣檢測自動確定陰影的寬度，進而測定樣品的尺寸。

　　測量的優勢：

　　光學熱膨脹儀測量本質上是一個的測量，不受隨溫度程序變化的系統熱膨脹的影響。 只有樣品經歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是的，不需要進行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準。

 

　　特點：

　　1、一次分析中可同時處理2個樣品模子；

　　2、自動操作，采用圖象技術分析灰熔點；

　　3、技術，可監測、電腦計算、儲存數據和曲線；

　　4、可在加氧或減氧壓下進行，樣品溫度范圍為200~1550℃；

　　5、被保存的圖象（間隔5°C）可制成熔融動畫。曲線、熔點、溫度爬坡均被打印和保存；

　　6、可自動辨別形狀（柱狀、金字塔形增漲、金字塔坍塌、絲狀），計算機分析相對于初始狀態的棱角、頂部變化；

　　7、一旦樣品放入熔爐里，操作者不須動手，直到分析結束。結果自動保存在數據庫并被打印；您可獲得打印報告、圖片，熔融曲線、數字熔融過程、分辨率為4℃；

　　8、該儀器可材料樣品的熱膨脹、熔點測試、灰熔點、熔融特征，儲存樣品的變化圖象（在您感興趣的溫度范圍內）；熔融過程的圖象（初始點、收縮點、球狀、半球狀、液化）均被儲存，并被自動打印，可提供寬度、高度、圓度、溫度爬升等信息；